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    HEKA微區掃描離子電導顯微鏡 SICM

    更新時間:2020-06-18

    型號:HEKA微區

    瀏覽量:517

    掃描離子電導顯微鏡SICM屬於掃描探針顯微鏡,它是一種具有納米級分辨率的顯微技術。區別於其他掃描探針顯微技術,SICM能夠在樣品表麵非接觸的條件下獲取樣品表麵形貌特性信息,並且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預處理。
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